IST9010/IST9020 大功率半导体器件参数测试系统
一台高性价比、安全、稳定、可靠、易用的半导体器件参数测试仪
- 测试操作安全保障: 1)测试端口、测试盒放置错误提示
- 整机测控一体式设计 ; 触摸屏操作 , 脚踏开关控制 ; 内置图示仪功能;
- IGBT 6-1、4-1、2-1 测试解码器 。
2)器件种类放置错误提示
3)器件管脚插入方向及连接错误提示
4)高压防触电测试操作
- 大电流、高电压: IST9010 : 50A/2500V
- 12 种半导体器件 ,137 个测试参数
- 可测试到小电流下 mV 级导通压降、mΩ 级导通电阻
- IGBT 及 MOSFET 扩散电容动态参数测试、栅极输入
- 阻抗动态参数测试
- 可按客户测试要求进行特殊定制
IST9020 : 400A~4800A、5kV~10kV(20kV可定制)
大功率半导体器件测试
当功率模块老化时,其工作效能必定降低。一个应用在大功率开关上的功率器件.在其使用期限内,如能定期维护测试,可其使用的不错状态,防止故障发生。
IST 9000系列测试系统,可以模拟半导体器件在真正工作状态下的电流及电压.并测量重要参数。其测试值再与原出厂指标比较,由此来判定器件的好坏或退化的程度。同时半导体器件对温度非常敏感,在其工作时的温度下进行测试.其真正的问题才能显现。
IST 9020具有恒温控制电热系统,可将被测器件加热至其工作温度进行测试。因此不良的器件可以及早的被侦测出,以免造成日后严重的问题。
IST 9020在大功率器件的导通参数(Vce (sat),Vds(on),Rds(on),Vsd,Vf,Vtm等) 测试上提供强制的恒流源可达 400A,800A,1600A,2400A,3200A,及 4800A,可依客户的需求来选定。
在器件关闭状态下的各项参数如击穿电压及漏电流的最高电压可达2.5KV,5KV,7.5KV,及10KV(10KV以上可定制)。
二种型号以适应客户的预算与测试上的需求
IST 9000 系列测试系统中,9010是一款中低功率,较低价位的型号.而9020则是一款具有全功率器件测试能力的型号。二者具有相同的功能与参数测试能力,只是在功率上,9020最高电流可达 4800A,电压为 10KV;而9010的电流为 50A,电压则为 2.5KV,其体积与重量都较小.
产品特点
- 可检测12种半导体器件多达137个参数
- 具有自校准及系统故障自检功能
- 采用Windows 7的触控屏幕计算机及易操作的软件设计
- 测试程序可存储及重复使用
- 测量MOSFETs及IGBTs各介面的电容值及栅极的输入阻抗
- 具备有图示仪多种特性曲线的绘图软件
- 提供自动参数测量.并判别其好坏
- 恒温控制的功能可将被测器件加热至250℃(选配)
- 多种测试工装,方便快速测试多种大功率的模块器件
- 具有机械手接口可供晶圆或成品量产测试
- 提供6合1,IGBTs模块测试选件
- 可滑动的机柜设计方便维修调试或升级
- 安全启动测试的功能,防止使用者因误启动而触电
- 接脚有误,损坏或不对的器件及测试座的错误,均可在启动测试前的瞬间,安全快速的检测到而停止测试
- USB接口,可同时外接打印机,键盘,与鼠标
- 提供精确的"开尔文"测量回路或可自动校准的"非开尔文"测量
- 测试脉冲10us~300us,连续可调
IST 9000系列的优势
图示仪功能
IST 9000系列是具有触控屏幕的计算机,内装绘图软件,当使用图示仪的功能时,9010/9020的测试系统,会在使用者指定的某一测试范围内,随着测试条件的变化,以点至点的方式执行高达32个高速测试步骤,并由此绘出一条或最多可达六条的曲线.由此来显示此参数在此测试区间内的变化.并由鼠标在曲线上的移动,可得出其每一点的数据.其曲线可定义为线性或对数模式.
具有超大功率的电磁阀继电器与恒流源
IST 9020 的大功率恒流源是由48 组50A 或100A 为单位的电流源以并联的方式所组成,大功率的继电器提供了大电流与高电压自动的切换功能.
具有"开尔文" 测量回路的大功率测试工装
IST 9020 测试工装可对大功率器件如 IGBTs,MOSFETs,三极管,GTOs,SCRs 及二极管,进行快速准确的测试,并可免去测试前后的接线与拆线,费时错接等问题。 使用测试工装,可以在高达4800 A的电流和高达10 KV的电压下进行测试。
IGBTS 及MOSFETS 开关功率耗损的分析
当器件在低频工作下,其效率绝大部分取决于器件的导通参数 (如Vce (sat),Vds(on),Rds(on) ),若工作频率升高时,器件各介面的电容量 (Cies,Coes,Cres,Ciss,Coss,Crss) 及栅级的输入阻抗(Zin),就变得越发重要了。不当的参数值会延迟其开关速度,增加驱动上的损耗而使器件过热,导致提早老化并大大降低其工作效率。
功耗较大的器件会产生过多的热量,导致设备过早老化,性能下降。IST 9000系列是一个有效的解决方案,能够正确测试大功率器件,作为维护和生产流程的一部分,以目前高频开关应用中使用的功率器件的不错性能和寿命。